高光譜成像技術(shù)在棉花雜質(zhì)檢測中的應用
發(fā)布時間:2024-01-19
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高光譜成像技術(shù)最早與紡織領域有關的研究是從棉花雜質(zhì)檢測開始的,研究對象為籽棉、皮棉、梳棉表面以及內(nèi)部的多種雜質(zhì),雜質(zhì)包括普通雜質(zhì)、毛發(fā)、丙綸絲、有色線、地膜等無色、淺色和深色異性物質(zhì)。
高光譜成像技術(shù)最早與紡織領域有關的研究是從棉花雜質(zhì)檢測開始的,研究對象為籽棉、皮棉、梳棉表面以及內(nèi)部的多種雜質(zhì),雜質(zhì)包括普通雜質(zhì)、毛發(fā)、丙綸絲、有色線、地膜等無色、淺色和深色異性物質(zhì)。
通過分析棉花雜質(zhì)檢測相關的文獻,對其中的研究方法進行了整理,見表1,這些研究方法也可以作為參考應用到紡織其他檢測領域。
在籽棉雜質(zhì)檢測中,常金強等對120個機采籽棉樣本的圖像使用主成分分析(PCA)的方法對數(shù)據(jù)進行降維,通過3種有監(jiān)督的分類判別算法建立判別模型,結(jié)果顯示線性判別分析(LDA)模型結(jié)果最優(yōu),可以有效識別植物性雜質(zhì),但是對地膜的識別還存在誤判。
Wei等[9]以含有5種白色異性纖維的籽棉為研究對象,光譜采集范圍為400-1000 nm,對選取的子區(qū)域通過最小噪聲分離(MNF)方法降維、去噪,通過機器視覺評價確定最佳分割圖像,試驗表明該方法能夠?qū)Π咨愋岳w維進行有效識別,識別率達91%。針對籽棉中地膜難以有效識別的問題,倪超等[2提出了一種新的算法,首先采集籽棉高光譜圖像,光譜范圍在1000-2 500nm,然后運用深度學習中的自編碼器模型對數(shù)據(jù)進行特征提取和降維,然后對樣本實現(xiàn)初步分類,最后將結(jié)果分類為地膜和非地膜,該算法大大提高了對地膜的識別率,基本滿足了實際生產(chǎn)需求。
在皮棉表面雜質(zhì)檢測中,劉巍等對高光譜反射、透射和反透射3種不同的成像模式進行研究,對比雜質(zhì)在皮棉中的識別率,結(jié)果表明采用透射成像模式雜質(zhì)的識別率最高。
郭俊先等先獲取不同異性纖維的最佳波段圖像,然后采用像素級簡單的圖像融合進行識別,結(jié)果表明對多類難檢異性纖維共存的檢測是可以實現(xiàn)的,針對白色豬毛和透明丙綸絲無法識別的問題,提出可以采用結(jié)合全波段進行像素判別分類的解決方法。
Mustafic等利用高光譜熒光成像作為異性物質(zhì)分化的補充工具,首先利用基于興趣區(qū)域的方法提取皮棉和7種異物的平均光譜,然后采用主成分分析(PCA)方法,從425 ~700 nm 范圍內(nèi)的113個波長中篩選出最優(yōu)特征,對所選波長進行線性判別分析(LDA),所有樣品的平均分類率為90%。
張航等]對混入皮棉中的地膜識別進行了研究,首先提取地膜的平均光譜數(shù)據(jù),使用偏最小二乘回歸分析(PLSR)方法優(yōu)選出560.3、673.9.716.9 nm 和 798.8 nm 4個最優(yōu)波段,然后提取4個波段對應的圖像,分別進行兩次圖像融合,并移除小目標得到最終圖像,該方法能較好地完成對地膜圖像的分割。
在梳棉表面雜質(zhì)檢測中,Zhang等23用液晶可調(diào)諧濾波器高光譜成像技術(shù)檢查棉絨表面異物,光譜采集范圍為900~1 700 nm,用線性判別分析方法對不同類型的異物和棉絨進行光譜特征分類,采用留一驗證和四倍交叉驗證的分類準確率分別為96.5%和95.1%。
在梳棉內(nèi)部雜質(zhì)檢測中,郭俊先等針對棉網(wǎng)1~4 mm深度內(nèi)的雜質(zhì)進行研究,采用3種不同的方法來提取雜質(zhì)的關鍵波長,通過對比分析,采用與像素分類器結(jié)合的包裝方法選擇的最優(yōu)波長集合,能夠識別大部分普通雜質(zhì),但是對白色豬毛和透明丙綸絲的識別率還有待提高。
對于梳棉內(nèi)部更深處的雜質(zhì),郭俊先等[27]在波長460-900 nm 范圍內(nèi),采用像素分類分割圖像處理,利用二次判別分析分類像素,對雜質(zhì)和棉網(wǎng)進行準確分類,但是對比度小的像素分類較差如白色丙綸絲,且隨著棉網(wǎng)深度的增加檢測效率下降較快。
Zhang等采用透射模式對棉絨內(nèi)常見異物進行檢測和分類,對獲取的圖像,利用最小噪聲分數(shù)旋轉(zhuǎn)獲得組分圖像,從141個波長波段中識別出最佳光譜波段,利用 LDA 和 SVM分別在光譜水平和像素水平對異物進行分類,使用選定的最佳波長,光譜和圖像的分類精度達到95%以上。
Jiang等使用最小冗余最大關聯(lián)算法作為特征選擇方法,篩選出最適合異物分類的波長,通過比較使用LDA、SVM 和ANN的分類性能來評估所選波長的通用性,共選擇12個波長作為異物分類的最佳特征集,LDA、SVM 和 ANN的平均分類率分別為91.25%.86.67%和 86.67%,該研究探索了一種高光譜成像最佳波長選擇的新方法,提高了分類精度和速度。
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