熒光光譜分析測試或分析方法原理
發(fā)布時間:2024-11-15
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熒光光譜技術(shù)是一種通過測量物質(zhì)吸收光后發(fā)射的熒光光譜來研究物質(zhì)性質(zhì)的技術(shù)。本文根據(jù)《JY-T 0571-2020》,簡單總結(jié)了熒光光譜分析測試或分析方法原理。
熒光光譜技術(shù)是一種通過測量物質(zhì)吸收光后發(fā)射的熒光光譜來研究物質(zhì)性質(zhì)的技術(shù)。本文根據(jù)《JY-T 0571-2020》,簡單總結(jié)了熒光光譜分析測試或分析方法原理。
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1熒光定性定量分析原理
熒光分析主要是指利用某些物質(zhì)在特定波長光的激發(fā)下,產(chǎn)生特定波長和特定強度熒光等的特性進行物質(zhì)的定性和定量的分析方法。
注:定量分析僅限于稀溶液樣品,一般不直接用于固體樣品定量分析。
1.1定性分析
常采用直接比較法,將樣品的激發(fā)和發(fā)射光譜峰的數(shù)目、位置、強度以及光譜形狀(極值和拐點)、發(fā)射光譜壽命等特征,與標準物的譜圖作比較,以確定物質(zhì)種類。
1.2定量分析
定量分析原理參見GB/T 19267.3和《中華人民共和國藥典》(2015年版)(四部)0405熒光分光光度法,包括標準對照法和標準曲線法。
注:在實際應(yīng)用中,應(yīng)考慮內(nèi)濾效應(yīng)對熒光強度的影響。
2熒光量子產(chǎn)率分析原理
熒光量子產(chǎn)率的測定有參比法和絕對法兩種。
2.1參比法
也稱相對法,是用已知量子產(chǎn)率的熒光標準物質(zhì)作為參比對待測熒光試樣進行量子產(chǎn)率的測試。在相同激發(fā)條件下,分別測定待測熒光試樣和參比熒光標準物質(zhì)兩種稀溶液的積分熒光強度(即校正熒光光譜所包括的面積),以及對該激發(fā)波長人射光的吸光度,再將這些值分別代入公式(1)進行計算:
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2.2絕對法
采用積分球?qū)晒饬孔赢a(chǎn)率進行測量,適用于液體、固體、薄膜和粉末樣品,目前一般測試波長范圍為300 nm~800nm。待測樣品各個方向的發(fā)射光經(jīng)過積分球均勻化后從出射口出來,并經(jīng)過單色器最后被檢測器所檢測。測定時,分別測定待測熒光試樣和空白試樣的熒光峰面積和激發(fā)峰面積(均為校正后)再將這些值分別代入公式(2)進行計算:
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3熒光偏振分析原理
熒光偏振(P)和熒光各向異性(r)定義為公式(3)和公式(4)。
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4熒光壽命分析原理
熒光壽命的測試一般采用時間相關(guān)單光子計數(shù)法(time correlated single photon counting),簡稱“TCSPC法”;或相調(diào)制技術(shù),也稱為“頻域法(frequency-domain method)”;或頻閃分時法,簡稱"STROBE”法。TCSPC、頻域法和STROBE的具體原理參見附錄A。在當今實際應(yīng)用中,TCSPC法和STROBE 方法互為補充。
5時間分辨熒光光譜分析原理
獲得時間分辨激發(fā)/發(fā)射光譜(time-resolved excitation/emission spectra,TRES)的常用技術(shù)有;采用多波長掃描獲得一系列的衰減曲線,而后對應(yīng)特定時間寬度做時間切片后,獲得時間分辨激發(fā)/發(fā)射光譜;對應(yīng)的測試技術(shù)有boxcar(取樣積分技術(shù))、TCSPC等;直接測量方法,采用可以采集光譜的多道檢測器,比如 ICCD(intensified charge-coupled device)、條紋相機、微通道板(multiple channel tube,MCP)等,經(jīng)過光譜儀色散后,直接獲得一系列設(shè)定時間寬度的瞬時光譜。
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